用希托夫法測定CuSO4水溶解中Cu2+的遷移數(shù)是物理、化學中的一門重要實驗，通過實驗可以進一步了解遷移數(shù)的含義，希托夫法測定遷移數(shù)的原理和方法，以及明確測定離子遷移數(shù)時與哪些因素有關。

    LQY離子遷移數(shù)測定裝置為實驗提供了精良的硬件條件，該LQY離子遷移數(shù)測定裝置性能穩(wěn)定，操作簡便，尤其適合教學實驗。

    LQY離子遷移數(shù)測定裝置是評價電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測試方法，將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中，并在相鄰的兩個絕緣網(wǎng)絡之間施加一定的直流電壓（偏置電壓），在長時間的測試條件下，檢測兩個網(wǎng)絡之間是否有絕緣失效。實踐證明，將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中，并在線路板上焊接電纜線，施加偏置電壓，然后每隔一段時間，將PCB從環(huán)境試驗箱中取出，進行絕緣電阻測試，這種間斷式的測試方法，會漏過很多實際發(fā)生的離子遷移。一方面因為將PCB從環(huán)境試驗箱中取出，PCB會變得干燥，從而導致絕緣電阻的上升，另一方面，當PCB在高溫高濕的環(huán)境試驗箱中承受偏置電壓時，離子遷移可能隨時發(fā)生。

    有效的PCB離子遷移測試，需要將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中，并在線路板上焊接電纜線，引出至環(huán)境試驗箱外的有關測試設備上，以在線路板上施加促進離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進行絕緣電阻測試，同時能實時檢測 PCB上的泄漏電流。